书目详细信息
： 数字系统测试与可测试设计
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 7-111-19237-0:CNY56.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 数字系统测试与可测试设计/.(美)Miron Abramovici，(美)Melvin A. Breuer，(美)Arthur D. Friedman著/.李华伟，鲁巍译 |
| 出版发行项： | 北京:,机械工业出版社:,2006 |
| 载体形态项： | 449页:;+26cm |
| 丛编项： | 电子工程丛书 |
| 提要文摘： | 本书系统地介绍数字系统测试理论和方法，包括测试生成、故障模型、故障模拟、可测试性设计、内建自测试等内容。 |
| 并列题名： | Digital systems testing and testable design eng |
| 题名主题： | 数字系统 测试 |
| 题名主题： | 数字系统 |
| 中图分类： | TP271 |
| 个人名称等同： | 阿布拉莫维奇 (美) (Abramovici, Miron) 著 |
| 个人名称等同： | 布鲁尔 (美) (Breuer, Melvin A.) 著 |
| 个人名称等同： | 弗里德曼 (美) (Friedman, Arthur D.) 著 |
| 个人名称次要： | 李华伟 (女， 译 |
| 个人名称次要： | 鲁巍 译 |