书目详细信息
： 半导体光谱测试方法与技术
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-03-047222-9:CNY128.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 半导体光谱测试方法与技术/.张永刚，顾溢，马英杰著 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2016 |
| 载体形态项： | 331页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 半导体科学与技术丛书 |
| 提要文摘： | 本书在回顾光谱学和光谱仪器的发展过程后，对半导体中涉及的主要光学过程以及半导体材料、器件及应用研究中需要哪些光谱分析手段和方法作了简要介绍，然后以分光(色散)和傅里叶变换两种方法为基础讨论了光谱分析的基本原理、测试仪器、关键部件、系统构成以及限制因素等，并结合一系列测量实例对吸收谱类、光电谱类和发射谱类测量方法与技术及相关细节进行了详细说明。 |
| 题名主题： | 半导体 光谱分析 |
| 中图分类： | O47 |
| 个人名称等同： | 张永刚 著 |
| 个人名称等同： | 顾溢 著 |
| 个人名称等同： | 马英杰 (光谱学) 著 |
| 记录来源： | CN KMXHSD 20161223 |